單片機仿真器是指以調(diào)試單片機軟件為目的而專門設(shè)計制作的一套的硬件裝置。
單片機在體系結(jié)構(gòu)上與PC機是完全相同的,也包括中央處理器,輸入輸出接口,存儲器等基本單元,因而與PC機等設(shè)備的軟件結(jié)構(gòu)也是類似的。因而單片機在軟件開發(fā)的過程中也需要對軟件進行調(diào)試,觀察其中間結(jié)果,排除軟件中存在的問題。但是由于單片機的應用場合問題,其不具備標準的輸入輸出裝置,受存儲空間限制,也難以容納用于調(diào)試程序的軟件,因此要對單片機軟件進行調(diào)試,就必須使用單片機仿真器。單片機仿真器具有基本的輸入輸出裝置,具備支持程序調(diào)試的軟件,使得單片機開發(fā)人員可以通過單片機仿真器輸入和修改程序,觀察程序運行結(jié)果與中間值,同時對與單片機配套的硬件進行檢測與觀察,可以大大提高單片機的編程效率和效果。
早的單片機仿真器是一套立裝置,具有的鍵盤和顯示器,用于輸入程序并顯示運行結(jié)果;隨著PC機的普及,新一代的仿真器大多數(shù)都是利用PC機作為標準的輸入輸出裝置,而仿真器本身成為微機和目標系統(tǒng)之間的接口而已,仿真方式也從初的機器碼發(fā)展到匯編語言、C語言仿真,仿真環(huán)境也與PC機上的語言編程與調(diào)試環(huán)境非常類似了。
仿真機一般具有一個仿真頭,用于取代目標系統(tǒng)中的單片機,也就是用這個插頭模仿單片機,這也是單片機仿真器名稱的由來。
目前,隨著單片機的小型化,貼片化和具有ISP,IAP等功能的單片機的廣泛應用,傳統(tǒng)單片機仿真器的應用范圍也有所縮小。而軟件單片機仿真器(即單片機仿真程序)的應用逐漸廣泛,單片機仿真程序即在個人計算機上運行的程序,可在一定程度上模擬單片機運行的硬件環(huán)境,并在該環(huán)境下運行單片機目標程序,并可對目標程序進行調(diào)試、斷點、觀察變量等操作,可大大提升單片機系統(tǒng)的調(diào)試效率。純軟件單片機仿真器往往與硬件設(shè)計程序集成在一起發(fā)布,使得開發(fā)者可以對單片機硬件與軟件進行同步開發(fā)。
(1)手工制造印制電路板的工藝 手工制造PCB的一道基本工序是將設(shè)計好的PCB圖轉(zhuǎn)印到覆銅板上。簡單的有效的方法——蝕刻法,利用防護性的抗蝕材料在覆銅板上形成圖形,不需要的銅箔隨化學腐蝕而被去掉。腐蝕結(jié)束后,將抗蝕層清洗掉,從而就能看到應有圖形。
(2)工廠制作印制電路板的生產(chǎn)工藝 工廠生產(chǎn)印制電路板需要經(jīng)過繁雜的工序。在生產(chǎn)過程中,每項技術(shù)都有明確的操作方法,除制作底片外,孔金屬化及圖形電鍍蝕刻是生產(chǎn)的關(guān)鍵。印制電路原版底圖的制作方法:對印制電路板來說,用什么方法都必須滿足質(zhì)量要求的1:1原版底片,同時還要將原版底片翻新為生產(chǎn)底片,原版底片的來源有兩種,一種是制作照相底圖,拍照后得到原版底片,一種是利用計算機系統(tǒng)和光繪機直接繪出原版底片,PCB的印制及蝕刻及工藝:制抗蝕或電鍍的掩模圖形有兩種通用方法:絲網(wǎng)漏印法和感光干膜法。絲網(wǎng)漏印法一般用于批量較大、單精度低的單面或雙面PCB生產(chǎn),便于自動化。而感光干膜法主要是提高生產(chǎn)效率、簡化工藝、提高制板質(zhì)量等方面。
芯片發(fā)熱
這主要針對內(nèi)置電源調(diào)制器的高壓驅(qū)動芯片。假如芯片消耗的電流為2mA,300V的電壓加在芯片上面,芯片的功耗為0.6W,當然會引起芯片的發(fā)熱。驅(qū)動芯片的大電流來自于驅(qū)動功率MOS管的消耗,簡單的計算公式為I=cvf。
考慮充電的電阻效益,實際I=2cvf,其中c為功率MOS管的cgs電容,v為功率管導通時的gate電壓,所以為了降低芯片的功耗,必須想辦法降低c、v、f。如果c、v、f不能改變,那么請想辦法將芯片的功耗分到芯片外的器件。注意不要引入額外的功耗。再簡單一點,就是考慮更好的散熱吧。
功率管發(fā)熱
功率管的功耗分成兩部分,開關(guān)損耗和導通損耗。要注意,大多數(shù)場合特別是LED市電驅(qū)動應用,開關(guān)損害要遠大于導通損耗。開關(guān)損耗與功率管的cgd和cgs以及芯片的驅(qū)動能力和工作頻率有關(guān),所以要解決功率管的發(fā)熱可以從以下幾個方面解決:
01、不能片面根據(jù)導通電阻大小來選擇MOS功率管,因為內(nèi)阻越小,cgs和cgd電容越大。
如1N60的cgs為250pF左右,2N60的cgs為350pF左右,5N60的cgs為1200pF左右,差別太大了,選擇功率管時,夠用就可以了。
02、剩下的就是頻率和芯片驅(qū)動能力了,這里只談頻率的影響。頻率與導通損耗也成正比,所以功率管發(fā)熱時,首先要想想是不是頻率選擇的有點高。想辦法降低頻率吧!
不過要注意,當頻率降低時,為了得到相同的負載能力,峰值電流必然要變大或者電感也變大,這都有可能導致電感進入飽和區(qū)域。如果電感飽和電流夠大,可以考慮將CCM(連續(xù)電流模式)改變成DCM(非連續(xù)電流模式),這樣就需要增加一個負載電容了。
工作頻率降頻
這個也是用戶在調(diào)試過程中比較常見的現(xiàn)象,降頻主要由兩個方面導致。輸入電壓和負載電壓的比例小、系統(tǒng)干擾大。對于前者,注意不要將負載電壓設(shè)置的太高,雖然負載電壓高,效率會高點。對于后者,可以嘗試以下幾個方面:
1.將小電流設(shè)置的再小點;
2.布線干凈點,特別是sense這個關(guān)鍵路徑;
3.將電感選擇的小點或者選用閉合磁路的電感;
4.加RC低通濾波吧,這個影響有點不好,C的一致性不好,偏差有點大,不過對于照明來說應該夠了。
無論如何降頻沒有好處,只有壞處,所以一定要解決。
電感或變壓器的選擇
相同的驅(qū)動電路,用a生產(chǎn)的電感沒有問題,用b生產(chǎn)的電感電流就變小了。遇到這種情況,要看看電感電流波形。有的沒有注意到這個現(xiàn)象,直接調(diào)節(jié)sense電阻或者工作頻率達到需要的電流,這樣做可能會嚴重影響LED的使用壽命。
所以說,在設(shè)計前,合理的計算是必須的,如果理論計算的參數(shù)和調(diào)試參數(shù)差的有點遠,要考慮是否降頻和變壓器是否飽和。變壓器飽和時,L會變小,導致傳輸delay引起的峰值電流增量急劇上升,那么LED的峰值電流也跟著增加。在平均電流不變的前提下,只能看著光衰了。
LED電流大小
大家都知道LED的ripple過大的話,LED壽命會受到影響,影響有多大,也沒見過哪個說過。以前問過LED廠這個數(shù)據(jù),他們說30%以內(nèi)都可以接受,不過后來沒有經(jīng)過驗證。建議還是盡量控制小點。如果散熱解決的不好的話,LED一定要降額使用。也希望有能給個具體指標,要不然影響LED的推廣。
作為一個微電子的IC learner,這個學期也有一門課:《微電子器件》,今天我就來聊聊基本的器件:CMOS器件及其電路。在后面會聊聊鎖存器和觸發(fā)器。
今天的主要內(nèi)容如下所示:
·MOS晶體管結(jié)構(gòu)與工作原理簡述
·CMOS單元電路與版圖
·CMOS門電路
·CMOS的功耗表示
老實說,CMOS比較偏微電子器件,微電子器件還真難...這里我就說一些做數(shù)字設(shè)計或許要了解的東西吧(以后要是有必要,會補充)。
1、MOS晶體管結(jié)構(gòu)與工作原理簡述
我們或多或少知道,晶體管在數(shù)字電路中的主要作用就是一個電子開關(guān),通過電壓或者電流,控制這個“開關(guān)”開還是關(guān)。晶體管大概有兩種分類:一種是雙極性晶體管(BJT,bipolar junction transistor),另外一種是金屬-氧化物-半導體場效應晶體管(MOSFET或者MOS,metal-oxide-semiconductor field effect transistor)。我們這里主要來聊聊MOS了,那個BJT在現(xiàn)在數(shù)字IC設(shè)計中已經(jīng)不是主流工藝了。
①MOS晶體管分為PMOS和NMOS,是哪一類MOS取決于襯底和摻雜濃度。至于是怎么形成的,這太復雜了,簡單的三言兩語說不清楚,這里干脆就不說了,我們直接來看他們的截面圖和簡單地講解它們的工作原理好了(以下均以NMOS為例)。
NMOS晶體管的橫截面結(jié)構(gòu)如下所示:
IC設(shè)計:CMOS器件及其電路
底層是硅晶元圓襯底(substrate)(Body Si那里),頂上是導電的柵極(gate),中間是二氧化硅構(gòu)成的絕緣層。在過去柵極是由金屬構(gòu)成的,因此叫做金屬-氧化物-半導體,現(xiàn)在的柵極使用的是多晶硅(poly)。MOS結(jié)構(gòu)中,金屬(多晶硅)與半導體襯底之間的二氧化硅會形成一個電容。
好吧,上面那一段看不懂也沒關(guān)系,也不重要,需要你記住的是,上述的NMOS晶體管中,襯底是P型的,襯底上有兩個n型的摻雜區(qū)域分別稱為源極(Source)和漏極(Drain)(其實你把左邊定義為漏而右邊定義為源也沒有問題,因為這個時候這個器件是對稱的,在連接電源和地之后,S和D才真正確定),中間上面的稱為柵極(Gate),這就是NMOS的三個電極了(實際上的MOS是一個4端器件,它的襯底也是一個端)。下面來說一下他們怎么工作。
前面我們說了,晶體管的作用就是大致就是一個開關(guān),在電流或者電壓的控制下進行開和關(guān),對于NMOS晶體管,我們現(xiàn)在給它加上電壓,讓它開始工作:
IC設(shè)計:CMOS器件及其電路
如上左圖所示,加上電壓后,所謂的源極,就相當于電子的源頭;所謂的漏極,就相當于漏出電子的開口;而中間的柵極,就像控制開關(guān)一樣:一方面通過控制在柵極施加的高電平電壓,使源漏之間出現(xiàn)溝道,電子通過溝道從源極流向漏極,電流的方向也就是從漏到源了,從而進行導電,也就是“開關(guān)”打開的的時候(由于是形成的N溝道,也就是電子導電,因此成為N型CMOS)。另一方面再通過控制在柵極施加低電平電壓,讓溝道關(guān)斷,因此就源漏之間就關(guān)斷了,也就是“開關(guān)”關(guān)斷的時候。上面就是NMOS的結(jié)構(gòu)和工作流程了。(PMOS的工作流程恰好相反:通過控制在柵極施加的低電平電壓,進行打開,而通過控制在柵極施加高電平電壓,讓溝道關(guān)斷。)
注意:柵極的電壓達到一定數(shù)值時,溝道才會形成,溝道形成時的電壓稱為閾值電壓(Vth)。
②下面我們來看一下I-V特性曲線(注意這兩個稱呼,一個是轉(zhuǎn)移特性曲線,一個是輸出特性曲線):
IC設(shè)計:CMOS器件及其電路
在前面我們知道,對于NMOS,源極(S)是接地的,漏極(D)是接數(shù)字電源的,在工作的時候,一般Vds是不變的,然后根據(jù)柵極(G)上的電壓決定溝道是否導通。工作的時候,Vg的值(也就是輸入信號的電壓值)是一個定值,要么高電平(可能有波動),要么是低電平,從這里我們也知道NMOS工作的時候,是有電流從電源(VDD)流到地(GND)的(也就是從D流到S的),在電源電壓不變的時候,這個電流隨著柵極上的電壓而。
③接著我們看看MOS的內(nèi)部自個形成的電容(寄生電容),如下圖所示:
IC設(shè)計:CMOS器件及其電路
主要分為:
(1)柵和溝道之間的氧化層電容C1;
(2)襯底和溝道之間的耗盡層電容C2;
(3)多晶硅柵與源和漏的交疊而產(chǎn)生的電容C3 和C4;
(4)源/漏區(qū)與襯底之間的結(jié)電容C5與C6。
好吧,其實這些個MOS這個電容我們看看就好了,畢竟我們不是做器件的。
2、CMOS單元電路與版圖
在現(xiàn)在工藝中,我們主要使用的是成為CMOS(互補型半導體,Complementary MOS)的工藝,這種工藝主要就是把PMOS和NMOS這兩類晶體管構(gòu)成一個單元,稱為CMOS單元或者反相器單元,其結(jié)構(gòu)把PMOS和NMOS同時集成在一個晶元上然后柵極相連,漏極相連,下面是它的結(jié)構(gòu)圖(關(guān)于電路符號和功能將在后面講):
IC設(shè)計:CMOS器件及其電路
在上圖中,左邊是NMOS,右邊是PMOS。A是共連柵極輸入,Y是共連漏極輸出,VDD連接PMOS的源極,GND連接GND。
下面電路符號圖了,上面的那個CMOS反相器對于的電路符號圖如下所示:
IC設(shè)計:CMOS器件及其電路
現(xiàn)在我們就來分析一下這個CMOS反相器的工作原理來說明這個為什么CMOS工藝是主流吧:
A當輸入信號A=1時,PMOS關(guān)斷,NMOS打開,輸出信號Y的電壓相當于GND的電壓,也就是Y=0;在這個過程中,從VDD到GND這一個供電回路都沒有導通,因此理論不存在電流從VDD流到GND,因此功耗為0.
B當輸入信號A=0時,PMOS打開,而NMOS關(guān)閉,輸出信號Y=VDD=1,但是從VDD到GND這一個供電回路也沒有導通,因此理論上也不存在電流從VDD流到GND,因此功耗也為0。
C因此可以得出,理論上反相器進行傳輸信號時,沒有功耗(好吧,我們應該這樣說:功耗極其地低),這就是為什么使用CMOS的工藝的原因。
下面我們來看一下CMOS單元的版圖:
IC設(shè)計:CMOS器件及其電路
左邊是CMOS的電路符號,右邊是版圖(這個版圖先湊合著看),下面來說一下這個版圖吧:
首先是從下往上看,金屬(藍色)連接到數(shù)字地(Vss)上面;白色背景紅色虛線邊框的P阱區(qū)域是為說明,下面的綠色摻雜區(qū)域形成的是NMOS,上面綠色摻雜區(qū)域形成的是PMOS;
然后 綠色的摻雜區(qū)域 分布在 紅色的多晶硅附近,然后多晶硅連在一起(也就是把PMOS和NMOS的柵極連在一起),然后通過金屬引出(那個X表示通孔)為輸入Vi。
然后下面的NMOS的源極通過通孔跟金屬連在一起(綠色跟藍色通過X連在一起);NMOS和PMOS的漏極通過通孔連接到同一塊金屬上面然后當做輸出。
PMOS的源極通過通孔連接到金屬然后連接到了數(shù)字電源上。
更加抽象(好看一點)的圖如下所示:
IC設(shè)計:CMOS器件及其電路
版圖的基本知識就到這好了,更詳細的知識還是查看更的書籍吧。
3、CMOS門電路
①CMOS非門:上面的一個CMOS單元的功能就是非門的功能了,因此CMOS非門也就是這個CMOS的單元,也稱為反相器。其電路結(jié)構(gòu)就是反相器的電路結(jié)構(gòu)。
②(二輸入)CMOS與非門(NAND):
直接上圖吧,CMOS與非門的電路符號結(jié)構(gòu)如下所示:
IC設(shè)計:CMOS器件及其電路
(PMOS的電路符號柵極處本來應該有個小圈圈,表示低電平有效的)
③(二輸入)CMOS或非門(NOR)的電路符號和工作原理如下所示:
IC設(shè)計:CMOS器件及其電路
(PMOS的電路符號柵極處本來應該有個小圈圈,表示低電平有效的)
數(shù)字邏輯電路都可以由上面的三種電路化簡構(gòu)成,也就是說一個電路可以由NAND或者NOR電路構(gòu)成,我們來看看他們的特點來推導數(shù)字CMOS電路的特點。
容易知道(反正我們就當做結(jié)論好了):
反相邏輯門的通用結(jié)構(gòu)如下所示:
IC設(shè)計:CMOS器件及其電路
此外我們也注意到,使用到與功能的時候,NMOS網(wǎng)絡(luò)是串聯(lián)的;使用或功能時,NMOS網(wǎng)絡(luò)是并聯(lián)的。因此可以這么記憶:要NOMS都一起,才能一起(與),只要NMOS其中一個就可以(或),與還是或,可以根據(jù)NMOS的串并結(jié)構(gòu)判斷。
然后設(shè)計多少個輸入的NXXX門,就把多少個NMOS串/并聯(lián)起來,然后PMOS就是并/串就可以了。
4、CMOS的功耗表示
功耗是單位時間內(nèi)消耗的能量,在數(shù)字系統(tǒng)中的功耗主要包括靜態(tài)功耗和動態(tài)功耗,我們將從CMOS電路角度聊聊靜態(tài)功耗和動態(tài)功耗。
CMOS的靜態(tài)功耗:當CMOS不翻轉(zhuǎn)/不工作時的功耗。在CMOS都不工作時,也就是晶體管都處于截止狀態(tài)的時候,從VDD到GND并不是完全沒有電流流過的,還是有些微電流從電源流到地,這個靜態(tài)電流Idd稱為電源和地之間的漏電流,跟器件有關(guān)(至于漏電流是怎么引起的,這里就不再闡述了)。初中的時候,我們就學過P=UI,因此靜態(tài)功耗就可以這樣表示 :
IC設(shè)計:CMOS器件及其電路
CMOS的動態(tài)功耗是信號在0和1變化之間,電容充放電所消耗的功耗。我們知道,不僅僅CMOS器件有寄生電容,導線間也有電容。將電容C充電到電壓Vdd所需要的能量CVdd^2。如果電容每秒變換f次(也就是電容的切換頻率為f,在一秒內(nèi),電容充電f/2次,放電f/2次),由于放電不需要從電源那里獲取功耗,因此動態(tài)功耗就可以這樣表示:
IC設(shè)計:CMOS器件及其電路
PS:上面主要是列舉了一些主要的功耗,比如動態(tài)功耗中除了翻轉(zhuǎn)時電容消耗功耗外,還有在柵極信號翻轉(zhuǎn)的時候PMOS和NMOS同時導通引起的短路功耗。
這里不一一陳述,主要是考慮上面的那兩種功耗。也許后面記載低功耗設(shè)計的時候會詳細說明一下。
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