多導(dǎo)毛細(xì)聚焦光譜儀主要利用X射線全反射原理，從X射線管激發(fā)出來的X射線束在毛細(xì)玻璃管的內(nèi)壁以全反射的方式進(jìn)行傳輸，利用毛細(xì)玻璃管的彎曲來改變X射線的傳輸方向，從而實現(xiàn)X射線匯聚，同時將X射線的強度增加2～3個數(shù)量級。產(chǎn)品配置及技術(shù)指標(biāo)說明X?射線光管：50KV?，1mA?鉬鈀檢測系統(tǒng)：FAST?SDD?探測器檢測元素范圍：Al?(?13)?~?U(92)應(yīng)用程序語言：英／中測量原理：能量色散X射線分析分辨率：125±5eV焦斑直徑：15μm?分析方法：FP/校準(zhǔn)曲線，吸收，熒光樣品移動距離：可設(shè)置X射線激發(fā)由上往下，采用Mo靶，銅管體的光管，大窗口的SDD硅漂移探測器XY軸程控控制，程控移動?焦距可變?高倍放大的高清CCD?開槽式樣品臺多級密碼設(shè)置可給予不同的管理權(quán)限適配性強：適用于各類樣品尺寸的產(chǎn)品線，如600*600mm大型印刷電路板操作體驗佳：高精細(xì)樣品觀察圖像，微區(qū)小至納米級別的分辨率，實現(xiàn)更快速便捷的測試自動、智能：搭載可編程全自動位移平臺，無人值守、自動檢測樣品同時搭載影像識別功能，自動判定測試位置1.?高性能高精度X熒光光譜儀?(XRF)2.?計算機?通道逐次近似計算法?ADC?(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器)運用基本參數(shù)?(F軟件，通過簡單的三步進(jìn)行無標(biāo)樣標(biāo)定，使用?基礎(chǔ)參數(shù)計算方法，對樣品進(jìn)行的鍍層厚度分析3.?(多層薄膜基本參數(shù)法)?模塊進(jìn)行鍍層厚度毛細(xì)管鍍層分析產(chǎn)品特點：1、多導(dǎo)毛細(xì)光學(xué)系統(tǒng)和高性能SDD探測器：區(qū)別金屬準(zhǔn)直，多導(dǎo)毛細(xì)管可將光束縮小至10?μm，同時得到數(shù)千倍的強度增益?？蓽y量超微小樣品的同時大程度保證了測試的準(zhǔn)確性及穩(wěn)定性。2、微米級超小區(qū)域：在Elite-X光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計下大大降低檢出限，納米級超薄鍍層均可準(zhǔn)確、可靠測試3、廣角相機：樣品整體形貌一覽無余，且測試位置一鍵直達(dá)4、搭配高分辨微區(qū)相機：千倍放大*對焦測試區(qū)域，搭配XY微米級移動平臺，三維方向?qū)咕劢箿y試點位，誤差<±2?μm5、多重保護(hù)系統(tǒng)：V型激光保護(hù)，360°探入保護(hù)，保護(hù)您的樣品不受損害，保證儀器安全可靠的運作6、全自動移動平臺：可編程化的操作，針對同一類型樣品，編程測試點位，同一類樣品自動尋路直接測試7、人性化的軟件：搭配EFP核心算法軟件，人機交互，智慧操作8、可搭配全自動進(jìn)送樣系統(tǒng)

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