多導(dǎo)毛細(xì)聚焦光譜儀主要利用X射線全反射原理，從X射線管激發(fā)出來的X射線束在毛細(xì)玻璃管的內(nèi)壁以全反射的方式進(jìn)行傳輸，利用毛細(xì)玻璃管的彎曲來改變X射線的傳輸方向，從而實(shí)現(xiàn)X射線匯聚，同時將X射線的強(qiáng)度增加2～3個數(shù)量級。1.?高性能高精度X熒光光譜儀?(XRF)2.?計(jì)算機(jī)?通道逐次近似計(jì)算法?ADC?(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器)運(yùn)用基本參數(shù)?(F軟件，通過簡單的三步進(jìn)行無標(biāo)樣標(biāo)定，使用?基礎(chǔ)參數(shù)計(jì)算方法，對樣品進(jìn)行的鍍層厚度分析3.?(多層薄膜基本參數(shù)法)?模塊進(jìn)行鍍層厚度測量精度更高：新開發(fā)的特的光學(xué)器件和多導(dǎo)毛細(xì)管技術(shù)可對超微小區(qū)域及納米級薄層高精度測量超微小樣品檢測：測試小測量點(diǎn)直徑可達(dá)10μm測量效率高：高靈敏度、高解析度X熒光檢測系統(tǒng)搭配多導(dǎo)毛細(xì)管技術(shù)，測量時間更短，能夠?qū)崿F(xiàn)普通機(jī)型幾倍的檢測量性能優(yōu)勢：微區(qū)分析：定位平臺和毛細(xì)管聚焦光學(xué)結(jié)構(gòu)，聚焦直徑可小至?5μm?FWHM.?測試速度：強(qiáng)度高于金屬準(zhǔn)直1000倍以上的毛細(xì)管光路系統(tǒng)搭配核心算法，分析效率翻倍，將大幅度縮減分析時間。?自動智能：儀器響應(yīng)式自動開合，AI影像智能尋點(diǎn)一次編程即可實(shí)現(xiàn)成百上千個樣品點(diǎn)的檢測，實(shí)現(xiàn)在線檢測。多導(dǎo)毛細(xì)管技術(shù)，輕松應(yīng)對超小測量點(diǎn)薄涂層和薄涂層的測量分析，在柔性電路板、芯片封裝環(huán)節(jié)、晶圓微區(qū)的鍍層厚度和成分自動測試分析中盡顯優(yōu)勢主要利用X射線全反射原理，從X射線管激發(fā)出來的X射線束在毛細(xì)玻璃管的內(nèi)壁以全反射的方式進(jìn)行傳輸，利用毛細(xì)玻璃管的彎曲來改變X射線的傳輸方向，從而實(shí)現(xiàn)X射線匯聚，同時將X射線的強(qiáng)度增加2～3個數(shù)量級毛細(xì)管鍍層分析產(chǎn)品特點(diǎn)：1、多導(dǎo)毛細(xì)光學(xué)系統(tǒng)和高性能SDD探測器：區(qū)別金屬準(zhǔn)直，多導(dǎo)毛細(xì)管可將光束縮小至10?μm，同時得到數(shù)千倍的強(qiáng)度增益?？蓽y量超微小樣品的同時大程度保證了測試的準(zhǔn)確性及穩(wěn)定性。2、微米級超小區(qū)域：在Elite-X光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)下大大降低檢出限，納米級超薄鍍層均可準(zhǔn)確、可靠測試3、廣角相機(jī)：樣品整體形貌一覽無余，且測試位置一鍵直達(dá)4、搭配高分辨微區(qū)相機(jī)：千倍放大*對焦測試區(qū)域，搭配XY微米級移動平臺，三維方向?qū)咕劢箿y試點(diǎn)位，誤差<±2?μm5、多重保護(hù)系統(tǒng)：V型激光保護(hù)，360°探入保護(hù)，保護(hù)您的樣品不受損害，保證儀器安全可靠的運(yùn)作6、全自動移動平臺：可編程化的操作，針對同一類型樣品，編程測試點(diǎn)位，同一類樣品自動尋路直接測試7、人性化的軟件：搭配EFP核心算法軟件，人機(jī)交互，智慧操作8、可搭配全自動進(jìn)送樣系統(tǒng)

蘇州實(shí)譜信息科技有限公司是一家以X熒光光譜儀為核心,集多種檢測儀器的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售于一體的高科技企業(yè)。