火花直讀光譜儀是一種爐前元素快速分析儀器，其光源為低壓直流快速火花光源。儀器整機(jī)結(jié)構(gòu)、分光系統(tǒng)、電器系統(tǒng)、分析軟件及電磁兼容性等方面，都充分考慮到用戶現(xiàn)場(chǎng)的需求，經(jīng)不斷研究、實(shí)驗(yàn)、優(yōu)化而來(lái)，使RG-N75性能指標(biāo)能滿足用戶現(xiàn)場(chǎng)長(zhǎng)期使用的要求。

直讀光譜儀可以把它分成三類(lèi)，PMT（PMT即我們俗稱的光電倍增管）與CCD（CCD即電荷耦合元件）和CMOS，但是目前市場(chǎng)中，其實(shí)CCD直讀光譜儀較多，新出現(xiàn)的CMOS（CMOS則是互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體）技術(shù)，雖然便宜，但是技術(shù)還沒(méi)有CCD技術(shù)的成熟。

                                                                                  PMT直讀光譜儀的精度

PMT在技術(shù)上，是可達(dá)到精度的直讀光譜儀，只是因?yàn)樗膬r(jià)格高昂，以及增加檢測(cè)元素困難，并且市場(chǎng)中需要達(dá)到如此精度的工作不多，市場(chǎng)占有率不及CCD，普通的元素分析CCD完全夠用了。那么PMT技術(shù)精度可以達(dá)到多少呢?我們常用PPM來(lái)表示精度，而PMT直讀光譜儀的精度是可以達(dá)到1ppm或者0.1ppm的，什么，你沒(méi)看懂？1ppm就是10的-6次方，也就是一百萬(wàn)分之一，或者一千萬(wàn)分之一的元素含量，它能夠檢測(cè)出0.0001%或者0.00001%的元素含量，這個(gè)精度是不是老高了。一半在純金屬分析以及個(gè)別的用合金產(chǎn)品時(shí)會(huì)使用到。

國(guó)內(nèi)的PMT直讀光譜儀不一定能夠達(dá)到這個(gè)精度，與國(guó)外的技術(shù)相比還有一些差距。國(guó)內(nèi)PMT技術(shù)的直讀光譜儀并不多，僅是直讀光譜儀的市場(chǎng)，價(jià)格和科研費(fèi)用也高昂，所以大多數(shù)企業(yè)把目光放在CMOS直讀光譜儀上。

CCD直讀光譜儀的精度

CCD直讀光譜儀比PMT更加的便宜，并且在近兩年，市場(chǎng)價(jià)已經(jīng)降下來(lái)，現(xiàn)在十幾萬(wàn)就可以買(mǎi)一臺(tái)之前幾十萬(wàn)都買(mǎi)不到的直讀光譜儀，直讀光譜儀的精度小于100ppm，也就是達(dá)到小數(shù)點(diǎn)后三位，0.0001，檢測(cè)的元素0.01%或以上可以檢測(cè)出元素含量，可以檢測(cè)精度為萬(wàn)分之一。但隨著技術(shù)的發(fā)展，目前有些CCD直讀光譜儀精度已經(jīng)能夠達(dá)到0.001%，小數(shù)點(diǎn)后5位，即10ppm級(jí)別，但緊緊是極少數(shù)。

有很多原因造成精度的問(wèn)題，光電倍增管光譜儀內(nèi)部有恒溫裝置，儀器對(duì)環(huán)境要求較低，儀器較小，受溫度影響較大，CCD光譜儀為了提高性能需要外加制冷降低噪聲，但國(guó)內(nèi)光譜儀通常出于成本考慮,減配制冷系統(tǒng)，這僅僅是一點(diǎn)。

CCD儀器具有外形小，譜線范圍廣，適合材料分類(lèi)或分析精度要求不高,且材料種類(lèi)多樣的企業(yè)使用。

CMOS直讀光譜儀的精度

就配件來(lái)說(shuō)，CMOS比CCD更加便宜，CCD配件僅掌握在幾家企業(yè)手里，能夠生產(chǎn)，所以相對(duì)來(lái)說(shuō)，CMOS元器件成本比之要低，但這也是有缺陷的，作為感光元件，不僅僅是直讀光譜儀市場(chǎng)使用它們，還有相機(jī)也會(huì)使用這些元件。

但目前，相機(jī)還是采用CCD傳感器，而CMOS傳感器則成功的占據(jù)了相機(jī)低端市場(chǎng)，使得相機(jī)價(jià)格從幾萬(wàn)幾十萬(wàn)降至幾萬(wàn)甚至幾千。如果CMOS能夠精度更加高，占領(lǐng)未來(lái)的市場(chǎng)是必然的，但目前CMOS的固有劣勢(shì)無(wú)法解決。

就目前市場(chǎng)情況，銷(xiāo)售CCD直讀光譜儀的廠家更多，CMOS直讀光譜儀生產(chǎn)的廠家比較少。CMOS直讀光譜儀的精度，因?yàn)槿鄙儋Y料，很多廠家的產(chǎn)品中也沒(méi)有明確標(biāo)出，所以無(wú)法得出比較中肯的評(píng)價(jià)。

以上就是各種直讀光譜儀具體可以達(dá)到的精度

所有直讀光譜儀都可以達(dá)到ppm級(jí)的精度嗎？

直讀的檢測(cè)線是小于100ppm，也就是達(dá)到小數(shù)點(diǎn)后三位，0.001，檢測(cè)的元素0.01%或以上可以檢測(cè)出元素含量，可以檢測(cè)精度為萬(wàn)分之一。并不是所有直讀光譜儀的檢測(cè)限都是一樣的，不同廠家不同機(jī)型所達(dá)到的精度不同。

光譜分析是根據(jù)物質(zhì)的光譜來(lái)鑒別物質(zhì)，確定它的化學(xué)組成和相對(duì)含量，是一種靈敏快速的分析方法。生產(chǎn)過(guò)程的各個(gè)環(huán)節(jié)中，為了把控質(zhì)量，保證成品符合出廠和驗(yàn)收要求，都離不開(kāi)實(shí)時(shí)的化學(xué)成分檢測(cè)。

直讀光譜儀原理

直讀光譜儀原理是樣品經(jīng)過(guò)電弧或火花，每種元素發(fā)射光譜譜線強(qiáng)度正比于樣品中該元素含量，通過(guò)檢測(cè)發(fā)射光譜強(qiáng)度的能量大小來(lái)分析各元素的含量。

原子發(fā)射光譜分析所采用的原理是用電?。ɑ蚧鸹ǎ┑母邷厥箻悠分懈髟貜墓虘B(tài)直接汽化放電激發(fā)成原子蒸汽，當(dāng)物質(zhì)受到外界能量（電能和熱能）的作用時(shí)，核外電子就躍遷到高能級(jí)，處于高能態(tài)（激發(fā)態(tài)）電子是不穩(wěn)定的，激發(fā)態(tài)原子可存在的時(shí)間約為10-8秒，它從高能態(tài)躍遷到基態(tài)，或較低能態(tài)時(shí)，把多余的能量以光的形式釋放出來(lái)。激發(fā)而發(fā)射出各元素的特征波長(zhǎng)，因?yàn)槊恳环N元素的基態(tài)是不相同的，激發(fā)態(tài)也是不一樣的，所以發(fā)射的光子是不一致的，也就是波長(zhǎng)不相同的。

依據(jù)波長(zhǎng)可以決定是哪一種元素，這就是光譜的定性分析。另一方面譜線的強(qiáng)度是由發(fā)射該譜線的光子數(shù)目來(lái)決定的，光子數(shù)目多則強(qiáng)度大，反之則弱，而光子的數(shù)目又和處于基態(tài)的。

用光柵分光后，成為按波長(zhǎng)排列的“光譜”，這些元素的特征光譜線通過(guò)出射狹縫，射入各自的感光器件，光信號(hào)變成電信號(hào)，經(jīng)儀器的控制測(cè)量系統(tǒng)將電信號(hào)積分并進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，然后由計(jì)算機(jī)處理，并打印各元素的百分含量。

光電直讀光譜儀雖然本身測(cè)量準(zhǔn)確度很高，但測(cè)定試樣中元素含量時(shí)，所得結(jié)果與真實(shí)含量通常不一致，存在一定誤差，并且受諸多因素影響，有的材料本身含量就很低。有下面幾種情況，在檢測(cè)時(shí)可能產(chǎn)生誤差。

，標(biāo)樣對(duì)光譜儀結(jié)果精度的影響，標(biāo)樣和試樣的含量和化學(xué)組成不完全相同時(shí)，可能引起基體線和分析線的強(qiáng)度改變。

第二，標(biāo)樣與試樣的物理性能不完全相同時(shí)，激發(fā)特征譜線會(huì)有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。

第三，澆注的鋼樣經(jīng)過(guò)退火，淬火，回火，熱軋，鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時(shí)，測(cè)出的數(shù)據(jù)會(huì)有差別。

第四，熔煉過(guò)程中加入脫氧劑，去硫磷劑，混入未知合金元素，引起未知元素譜線的重疊干擾。

第五，樣品的元素分布不均勻，導(dǎo)致分析結(jié)果不同。

以上幾點(diǎn)是直讀光譜儀精度產(chǎn)生誤差的原因，若能避免，光譜儀的使用會(huì)更加方便。

雖然目前CCD還有一些不足之處，但是大家認(rèn)為CCD在光電直讀光譜儀中的應(yīng)用是值得期待的。PMT到現(xiàn)在已經(jīng)發(fā)展60多年了，是一種經(jīng)典成熟的技術(shù)。而CCD技術(shù)正處于飛速的發(fā)展變化之中，可以預(yù)期CMOS(互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體)技術(shù)很快會(huì)應(yīng)用于CCD當(dāng)中，這些技術(shù)的不斷發(fā)展會(huì)促使CCD發(fā)展到更高的水平。近些年CCD器件發(fā)展已經(jīng)相當(dāng)成熟，能夠滿足一般的分析要求，針對(duì)細(xì)分市場(chǎng)，各種用途的CCD不斷產(chǎn)生。CCD與PMT結(jié)合是目前解決全譜檢測(cè)并滿足微量和痕量分析的優(yōu)選擇，但同時(shí)滿足兩種類(lèi)型檢測(cè)器的采樣控制和系統(tǒng)的結(jié)合目前仍然是該類(lèi)儀器的制造難點(diǎn)。

       所以說(shuō)，CCD和PMT的存在，在目前為止都是合理且必要，而的COMS技術(shù)也在進(jìn)入市場(chǎng)。對(duì)于客戶來(lái)說(shuō)，就是合理的選擇一款自己合適的儀器，不要人云亦云。

       鋼研納克目前的儀器基本是以CCD技術(shù)為主，COMS技術(shù)也基本成熟，并推出上市。

讓我們共同奉獻(xiàn)誠(chéng)摯，恪守信譽(yù)，時(shí)刻以“質(zhì)量至上，用戶至上”為宗旨，攜手并進(jìn)，共同發(fā)展，一次合作，永恒朋友！公司歡迎您的到來(lái)！

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